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YD/T 1532-2006《基于軟交換的綜合接入設(shè)備測試方法》是一項中華人民共和國通信行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)定了基于軟交換的綜合接入設(shè)備（IAD）的測試方法。
一、范圍：
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了基于軟交換的綜合接人設(shè)備(IAD)的基本功能測試、協(xié)議測試、接口測試、語音業(yè)務(wù)測試、數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)測試、性能測試、OAM測試、硬件項目測試和環(huán)境測試等方面的測試方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于基于軟交換的綜合接入設(shè)備。
二、試驗項目：
高低溫試驗、高溫高濕試驗等。
三、試驗設(shè)備：
恒溫恒濕試驗箱等。
四、文檔獲取：
添加微信：15322932685 獲取
.jpg "《YD/T 1532-2006 基于軟交換的綜合接入設(shè)備測試方法》標(biāo)準(zhǔn)(圖1)")
五、試驗程序（部分）：
高溫檢驗方法
(1)將被測設(shè)備在室溫條件下(15℃~ 35℃)，放入高溫環(huán)境，接通電源，連接測試儀表。待工作穩(wěn)定后，記錄測試數(shù)據(jù);
(2)開始升溫，升溫速率不超過0.7℃/min;
(3)在溫度達(dá)到極限高溫（50℃)時，停止升溫，待設(shè)備穩(wěn)定后，保持3h，測試各項指標(biāo)是否正常;
(4)溫度恢復(fù)，被測設(shè)備不移出高溫測試環(huán)境，切斷電源，使被測設(shè)備自然恢復(fù)至室溫條件，記錄測試數(shù)據(jù)，然后將被測設(shè)備移出高溫測試環(huán)境。
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